JF系列局部放電測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品描述

JF系列局部放電測(cè)試系統(tǒng)

局部放電檢測(cè)儀、局部放電測(cè)試儀、局放儀、局部放電測(cè)試系統(tǒng) 

可測(cè)試品電容量范圍：6pF-250uF

檢測(cè)靈敏度：＜0.02PC (容量50pF時(shí))

放大器頻帶選擇：3db低頻端頻率10、20、40KHz任選，3db高頻端頻率80、200、300KHz任選。
 

定量校正脈沖發(fā)生器：

發(fā)生器I（低壓校正注入輸入單元）：

zui大輸出電壓（0db）：100V

衰減范圍0-139db，±1db

前沿≤0.4μS

發(fā)生器II（高壓校正，注入試樣）：

輸出電壓4V~10mV 分11檔

前沿≤0.1μS

試驗(yàn)電壓測(cè)量范圍：500V、1500V、5000V（用5000V電壓表電阻）

5000V、15000V、50000V（用50000V電壓表電阻）

外形尺寸：530×550×220mm

重量：15kg產(chǎn)品概述

局部放電的定義及產(chǎn)生原因

在電場(chǎng)作用下，絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電，但尚未擊穿，（即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒(méi)有擊穿）。這種現(xiàn)象稱之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上，也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部，發(fā)生在表面的稱為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱為內(nèi)部局部放電。而對(duì)于被氣體包圍的導(dǎo)體附近發(fā)生的局部放電，稱之為電暈。由此 總結(jié)一下局部放電的定義，指部分的橋接導(dǎo)體間絕緣的一種電氣放電，局部放電產(chǎn)生原因主要有以下幾種：

• 電場(chǎng)不均勻。

• 電介質(zhì)不均勻。

• 制造過(guò)程的氣泡或雜質(zhì)。經(jīng)常發(fā)生放電的原因是絕緣體內(nèi)部或表面存在氣泡；其次是有些設(shè)備的運(yùn)行過(guò)程中會(huì)發(fā)生熱脹冷縮,不同材料特別是導(dǎo)體與介質(zhì)的膨脹系數(shù)不同，也會(huì)逐漸出現(xiàn)裂縫；再有一些是在運(yùn)行過(guò)程中有機(jī)高分子的老化，分解出各種揮發(fā)物，在高場(chǎng)強(qiáng)的作用下，電荷不斷地由導(dǎo)體進(jìn)入介質(zhì)中， 在注入點(diǎn)上就會(huì)使介質(zhì)氣化。

產(chǎn)品用途

GDJF2006 局部放電檢測(cè)分析系統(tǒng)（局放儀）由三大模塊構(gòu)成：信號(hào)處理模塊，隔離模塊，采集處理模塊。根據(jù)系統(tǒng)連接圖，檢測(cè)阻抗將局部放電信號(hào)檢出并送到信號(hào)處理模塊，信號(hào)處理模塊完成將局部放電信號(hào)整理、放大、整形等功能后將局部放電信號(hào)送往隔離模塊，隔離模塊將計(jì)算機(jī)采集處理模塊和信號(hào)處理模塊隔開(kāi)，防止它們之間互相干擾，后由采集處理模塊完成對(duì)局部放電信號(hào)的采集.處理.分析和顯示

JF系列局部放電測(cè)試系統(tǒng) 

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